01
适用范围
用于判断这项服务是否适合您的对象和技术问题；最终方案还需结合样品状态、目标参数和报告用途。
- 薄膜、涂层、晶圆、二维材料和聚合物表面形貌
- 纳米级粗糙度、台阶高度和颗粒尺寸
- 力曲线、相位、电势或导电等扩展模式研究
02
样品要求
送样前尽量提供材质、形态、数量、尺寸、批次、保存条件，以及是否允许切割、消解、喷镀或其他破坏性制样。
- 01
样品表面应相对平整、清洁并能可靠固定
- 02
尺寸和高度需适合扫描器与样品台
- 03
软、黏、湿、易污染或环境敏感样品需确认模式和气氛
03
检测项目
01
轻敲或接触模式形貌
获得表面三维高度和形貌图
02
粗糙度与台阶
按选定区域和滤波规则计算参数
03
相位与力学映射
比较局部材料或黏弹性差异
04
电学与功能模式
按探针和样品条件开展电势或导电分析
04
方法标准
以下用于前期技术匹配。正式委托时应按样品基体、目标参数、报告用途和最新有效版本逐项确认，不把仪器名称直接等同于标准方法。
ISO 13095AFM 探针形状表征相关方法
ISO 25178 系列表面形貌参数与区域测量框架
实验室验证方法按扫描模式、探针和数据处理规则执行
05
交付结果
样品信息、制样或前处理方式及关键测试条件
二维与三维 AFM 图、粗糙度或台阶参数及扫描条件
约定的数据表、图谱、曲线、图像或可导出的原始数据
对主要结果、异常信号及可比性条件的必要说明
方法适用范围、检出能力和不能据此直接推断的内容
常见报告用途
研发与材料筛选批次或工艺对比质量控制与异常排查项目验收或技术资料
06
限制条件
检测结果只在实际样品、测试位置、制样方式和约定条件下成立。以下边界应在委托前明确：
- 探针形状、反馈参数、扫描范围和数据处理会影响尺寸和粗糙度；AFM 图像可能存在卷积和伪影。
- 具体测试参数、检出限、定量范围和不确定度受样品基体、制样方式、仪器配置及方法验证状态影响。
- 标准目录用于前期技术匹配；正式委托时须确认标准版本、适用范围、报告用途及实验室当前能力。
07
常见问题
01AFM 测得的颗粒横向尺寸为什么可能偏大？
探针具有有限半径，扫描时会产生探针与样品形貌卷积，横向尺寸常受探针形状影响，高度通常更可靠。
02原子力显微镜 AFM需要多少样品？
样品量取决于形态、均匀性、制样损耗和测试模块。常见要求包括：样品表面应相对平整、清洁并能可靠固定；尺寸和高度需适合扫描器与样品台；软、黏、湿、易污染或环境敏感样品需确认模式和气氛。正式送样前仍需按目标参数确认。
03是否可以直接用一次测试代表整批样品？
不一定。仪器结果只代表实际取样和测试位置；非均匀材料应先约定取样规则、平行样、测试位置和统计方式。
04是否可以出具带 CMA/CNAS 标识的报告？
需结合具体项目、方法标准、报告用途及实验室最新有效能力附表在委托前逐项确认，不能只根据仪器名称判断。